Recenzja Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

477,55 zł
Zobacz książkę
This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. przeczytaj całość 

Recenzja

0
Zweryfikowane recenzje są wyraźnie oznaczone, pozostałe nie są zweryfikowane.
Nie ma żadnych recencji. Bądź pierwszy i napisz swoją!