Conductive Atomic Force Microscopy (po angielsku)
587,58
zł
Cena niższa o 7 % względem ZCD
Standardowo 631,96 zł
Foreword
Preface
Introduction to CAFM: History, Experimental and Current Status
Reliability of Polycrystalline Thin Oxides and Insulators
Investigation of High-k Dielectric Stacks by TUNA and CAFM: Advantages, Limitations and Applications
3D Tomography for Analyzing Conductive Filaments for...
przeczytaj całość
Conductive Atomic Force Microscopy
(po angielsku)
Produkt jest obecnie niedostępny.
587,58
zł
- Mogłoby Cię również zainteresować
- Inne książki autora
- Inne pozycje wydawcy
- Ostatnio obejrzane
Podobni autorzy
Współpraca hurtowa
Jeśli macie Państwo interesujący asortyment, prosimy o kontakt z naszym działem handlowym. Oferujemy atrakcyjne warunki, szybkie płatności i długoletnią współpracę.
hurtownie@megaksiazki.pl