Koszyk
towar
(pusty)
Kontakt
Konto
Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.
przeczytaj całość
Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.
ukryj opis
- Wydawnictwo: John Wiley & Sons Inc
- Kod:
- Rok wydania: 2016
- Język: Angielski
- Oprawa: Twarda
- Liczba stron: 296
- Szerokość opakowania: 23.6 cm
- Wysokość opakowania: 16.1 cm
- Głębokość opakowania: 1.9 cm
- Waga: 500 g
Recenzja