Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy (po angielsku)
164,82
zł
Cena niższa o 21 % względem ZCD
Standardowo 208,62 zł
AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for...
przeczytaj całość
- Mogłoby Cię również zainteresować
- Inne książki autora
- Inne pozycje wydawcy
- Ostatnio obejrzane
Podobni autorzy
Współpraca hurtowa
Jeśli macie Państwo interesujący asortyment, prosimy o kontakt z naszym działem handlowym. Oferujemy atrakcyjne warunki, szybkie płatności i długoletnią współpracę.
hurtownie@megaksiazki.pl