Streszczenie\nWykaz podstawowych skrótów i oznaczeń\n1. Wstęp

1.1. Ogólne zasady uwzględniania fluktuacji wartości parametrów elementów w procesie projektowania układów elektronicznych\n1.2. Sposoby poprawy jakości projektu przy fluktuacji jego parametrów\n1.3. Główne metody rozwiązywania problemu \"centrowania\" i optymalizacji uzysku\n1.4. Podsukowanie

\n
1. Podstawowe problemy w projektowaniu monolitycznych układów scalonych związane z rozrzutem wartości ich parametrów
\n

2.1. Rodzaje układów scalonych z punktu widzenia specyfiki projektowania\n2.2. Zjawiska negatywne występujące w układach scalonych\n2.3. Podsumowanie

\n
1. Związek modelu układu elektronicznego z metodą optymalizacji - przegląd metod optymalizacji uwzględniających rozrzuty wartości parametrów
\n

3.1. Metody deterministyczne\n3.2. Optymalizacja układu elektronicznego z modelem statystycznym układu\n3.3. Podsumowanie

\n
1. Wybrane problemy optymalizacji projektu układu elektronicznego przy pomocy sztucznych sieci neuronowych
\n

4.1. Przyczyny stosowania SSN w rozwiązaniu zagadnienia optymalizacji\n4.2. Sposoby optymalizacji z zastosowaniem SSN\n4.3. Przykład zastosowania SSN w zadaniu optymalizacji\n4.4. Podsumowanie

\n
1. Systemy wnioskowania rozmytego w projektowaniu układów elektronicznych
\n

5.1. Przyczyny zainteresowania zastosowaniami systemów rozmytych do optymalizacji układów elektronicznych\n5.2. Podstawowe wiadomości z logiki rozmytej i zbiorów rozmytych\n5.3. Przykład projektowania układu elektronicznego wspomaganego systemem wnioskowania rozmytego\n5.4. Podsumowanie

\n
1. Wybrane metody poprawy własności projektu układu elektronicznego wykorzystujące funkcje wrażliwości i sztuczną sieć neuronową
\n

6.1. Zalety podejścia projektowania dedykowanego (dla wybranej klasy układów elektronicznych) wykorzystujące metody sztucznej inteligencji\n6.2. Optymalizacja w układach filtrów IRS wyższych rzędów\n6.3. Przykłady zastosowań metody\n6.4. Podsumowanie

\n
1. Uwagi końcowe\nLiteratura\nSummary
\n